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type-c母座在射頻連接器市場仍占有很大份額,。type-c母座的主要功能是為機器和設(shè)備供電,、充電和傳輸數(shù)據(jù),,但一般來說,,type-c母座的普及程度不是很高。
通過對type-c母座的仿真實驗,,可以得到特性阻抗,、插入損耗、回波損耗和串聯(lián)損耗的仿真數(shù)據(jù)信息,。在對結(jié)果進行充分分析后,,我們發(fā)現(xiàn)導(dǎo)致射頻連接器總線基座信號完整性問題的主要因素是:特性阻抗波動過大、值小和回波損耗大,。因此,,在type-c母座進行優(yōu)化時,可以從這兩個方面進行優(yōu)化,。
針對type-c總線在數(shù)據(jù)信號傳輸過程中特性阻抗小,、回波損耗偏大的問題,本質(zhì)上是特性阻抗不可持續(xù)的問題,。根據(jù)模擬實驗結(jié)果,,發(fā)現(xiàn)射頻連接器的公母連接結(jié)構(gòu)問題導(dǎo)致數(shù)據(jù)信號傳輸異常。因此,,為了解決電連接器的信號完整性問題,,優(yōu)化電連接器公母接觸部分的結(jié)構(gòu)是非常重要的。由于電極連接線的特性阻抗關(guān)系到容性電抗和電感性電抗的高精度,,如果要提高type-c母座的特性阻抗,,需要采取以下兩種方法:
1.通過改變影響type-c母座感應(yīng)電抗的技術(shù)參數(shù),提高感應(yīng)電抗,;
2.通過改變影響母座容抗的技術(shù)參數(shù),,降低容抗。
電感主要受同軸電纜間距的影響,。因此,,如果要優(yōu)化影響電感器的參數(shù),就必須改變線路間隔,,這不僅會對type-c母座的實體模型造成很大的變化,,還會對電氣連接器造成許多意想不到的問題。
因此,,在優(yōu)化type-cUSB主板時,,應(yīng)充分考慮各方面的情況,,否則將面臨前瞻和落后的局面。
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